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常見粒度儀的幾種測試方法
更新時間：2013-01-09 瀏覽次數(shù)：1180
1）篩分法。優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低，常用于大于40um的樣品。缺點：結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
（2）顯微鏡（圖像）法。優(yōu)點：簡單、直觀，可進行形貌分析，適合分布窄（zui大和zui小粒徑的比值小于10：1）的樣品。缺點：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1um的樣品。
（3）沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。優(yōu)點：操作漸變，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準確性和重復性較好，測試范圍較廣。缺點：測試時間較長，操作比較繁瑣。
（4）電阻法。優(yōu)點：操作漸變可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。缺點：不適合測量小于0.1um的顆粒樣品，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。
（5）激光法。優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍廣，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。缺點：結果受分布模型影響較大，儀器造價較高，分辨力低。
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